DS1859
不推荐用于新设计双路、温控电阻,内置校准监测器
DS1859 SFP光控制器/监测器新增20kΩ选项,具有更高的控制分辨率
- 产品模型
- 8
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产品详情
- SFF-8472兼容
- 5条监视通道(温度、VCC、MON1、MON2、MON3)
- 3个外部模拟输入(MON1、MON2、MON3),支持内部和外部校准
- 外部模拟输入动态范围可扩展
- 内部直接数字化转换的温度传感器
- 各监视通道具有报警和警告标志
- 两个50kΩ或两个20kΩ、256级、非易失温控可变电阻
- 电阻设置可按照每2°C间隔改变
- 可访问监视及ID信息,具有独立的器件地址
- 2线串行接口
- 2个缓冲器,具有TTL/CMOS兼容输入和漏极开路输出
- 使用3.3V至5V电源工作
- 工作温度范围-40°C至+95°C
DS1859双路、温控、非易失(NV)电阻具有3个监视器,包含两个50kΩ或两个20kΩ、256级、线性可变电阻,三个模拟监视器输入端(MON1、MON2、MON3)以及直接数字化温度传感器。这款器件可对偏置电压和电流进行设置和温度补偿,非常适合于需要小尺寸电路的控制应用。可变电阻的设置保存在EEPROM存储器中,可通过2线串行总线进行访问。
应用
- 诊断监视
- 仪表与工业控制
- 光收发器
- 光发射机应答设备
- 射频功放
参考资料
数据手册 2
可靠性数据 1
应用笔记 2
设计笔记 8
技术文章 9
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的质量和可靠性计划和认证以了解更多信息。
产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号,脚注和 3D模型 |
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DS1859B-020+ | Chip-Scale Ball-Grid Array | ||
DS1859B-020+T&R | Chip-Scale Ball-Grid Array | ||
DS1859B-050+ | Chip-Scale Ball-Grid Array | ||
DS1859B-050+T&R | Chip-Scale Ball-Grid Array | ||
DS1859E-020+ | Thin Shrink Small-Outline Package | ||
DS1859E-020+T&R | Thin Shrink Small-Outline Package | ||
DS1859E-050+ | Thin Shrink Small-Outline Package | ||
DS1859E-050+T&R | Thin Shrink Small-Outline Package |
产品型号 | 产品生命周期 | PCN |
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12月 11, 2018 - 1754N ASSEMBLY |
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DS1859E-050+ | 量产 | |
DS1859E-050+T&R | 量产 |
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