ADE7753
ADE7753
製造中電力量計用IC、単相、マルチ・ファンクション、di/dt入力対応、シリアル・インターフェース
- 製品モデル
- 2
- 1Ku当たりの価格
- 最低価格:$2.70
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製品の詳細
- 高精度:IEC60687/61036/61268、IEC62053-21/62053-22/62053-23をサポート
- オンチップのデジタル積分器によって、di/dt出力をもつ電流センサーとの直接インターフェースが可能
- 電流チャンネルのPGAによって、シャント抵抗あるいはCT(カレント・トランス)との直接インターフェースが可能
- 有効、無効および皮相電力量、波形のサンプリング、電流および電圧のrms値
- 1000:1のダイナミック・レンジで0.1%以下の有効電力量測定誤差(25℃)
- ポジティブ電力量のみの積算モードが可能
- ライン電圧のサージ、SAG、とPSU検出用のユーザー・プログラマブルなスレッショールドを内蔵
- 電力、位相、と入力オフセットのデジタル・キャリブレーションが可能
- 温度センサー(±3℃typ)内蔵
- SPI®互換シリアル・インターフェース
- 設定可能な周波数によるパルス出力
- 割込み要求ピン(IRQ)およびステータス・レジスタ
ADE7753は、環境条件と時間に対する大きな変動に対しても高精度を提供する当社独自のADCとDSPを採用しています。ADE7753は、2個の2次16ビットΣ-Δ ADC、デジタル積分器(チャンネル1)、リファレンス回路、温度センサー、有効/無効/皮相電力量の測定、ライン電圧周期の計測、それに電圧と電流のrms計算の実行に必要なすべての信号処理機能を内蔵しています。内蔵のデジタル積分器は使用/不使用の選択が可能で、ロゴスキー・コイルのようなdi/dt電流センサーとの直接インターフェースを可能としているため、外付けのアナログ積分器の必要性を排除し、結果として優れた長期間での安定性と電流と電圧チャンネル間の正確な位相マッチングを提供します。
ADE7753は、データ読み込みのためのシリアル・インターフェースと有効電力に比例する周波数を持つパルス出力(CF)が用意されています。種々のシステム・キャリブレーション機能、すなわち高精度を確実にするためのチャンネル・オフセット修正、位相キャリブレーション、電力キャリブレーションが用意されています。この製品は、短時間の低電圧変動または高電圧変動も検出します。ポジティブのみの積算モードでは、ポジティブ電力が検出されている時だけ電力量を積算する(マイナス電力は積算しない)オプションとなります。内部の無負荷スレショールドによって、無負荷状態のときは、小さな電力を積算に寄与させない機能を備えています。ゼロ交叉出力(ZX)は、ライン電圧のゼロ交叉ポイントに同期したパルスを発生します。この信号は、内部でラインサイクルの有効および皮相電力量の積算モードに使われて、より高速なキャリブレーションを可能とします。
割り込みステータス・レジスタは、割り込み状態を表示し、割り込みの有効はレジスタによって制御され、IRQピンの出力に、オープン・ドレイン、アクティブ・ローのロジックでイベントを知らせます。ADE7753は20ピンSSOPパッケージを採用しています。
注:多相システムの設計の場合は、ADE7758を推奨します。
ドキュメント
データシート 1
アプリケーション・ノート 4
技術記事 12
協会&規格 17
よく聞かれる質問 1
製品モデル | ピン/パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
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ADE7753ARSZ | 20-Lead SSOP | ||
ADE7753ARSZRL | 20-Lead SSOP |
製品モデル | 製品ライフサイクル | PCN |
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5 29, 2013 - 12_0215 ADE7753/ADE7763 Metal Mask Revision. |
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ADE7753ARSZ | ||
ADE7753ARSZRL | ||
11 21, 2011 - 11_0235 ADE7751/3/5/8 Wafer Fabrication Qualification At Magnachip Semiconductor Ltd. |
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ADE7753ARSZ | ||
ADE7753ARSZRL | ||
8 25, 2010 - 10_0065 Halogen Free Material Change for SSOP Products at Carsem |
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ADE7753ARSZ | ||
ADE7753ARSZRL | ||
2 8, 2010 - 04_0080 Qualification of the 8" C6 and Q Wafer Fab Processes at Analog Devices, Limerick, Ireland. |
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ADE7753ARSZ | ||
ADE7753ARSZRL | ||
1 13, 2010 - 07_0090 Certification of STATSChipPAC China (SCC) as an additional Test facility for ADI |
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ADE7753ARSZ | ||
ADE7753ARSZRL |
これは最新改訂バージョンのデータシートです。