信頼性

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信頼性プログラムの概要

アナログ・デバイセズ（ADI）は常に、最高レベルの信頼性を満たす製品を提供することを最も重視してきました。ADIは、製品およびプロセスの設計と製造のあらゆる段階に品質と信頼性のチェックを組み込むことで、これを実現しています。

当社の5段階の信頼性プログラムには以下が含まれます：信頼性設計、組み込み信頼性、デバイス・レベル信頼性、ウェハ・レベル信頼性、信頼性モニタリング・プログラムです。

信頼性データとリソース

アナログ・デバイセズは、出荷するすべての製品が最高品質であることを保証するため、積極的に信頼性監視と予測プログラムを実施しています。ADIは、各プロセスにおいて、最新鋭の機器と手法を駆使して、主要な信頼性試験をすべて実施しています。加速環境ストレス試験の結果は、標準的な動作条件に外挿され、耐用年数を予測し、当社製品が業界最高レベルの信頼性を有することを保証します。以下のリンクから、製品またはプロセス／パッケージ・ファミリ別に検索可能な信頼性データにアクセスできます。

ウェハ製造データ

データには以下のテストと指標が含まれています：高温動作寿命（HTOL）、故障率（FIT）、平均故障時間（MTTF）。

ウェハ製造データへのアクセス

組立／パッケージ・プロセス・データ

データには複数のテストが含まれています：オートクレーブ試験（PCT）、高加速ストレス試験（HAST）、高温保存（HTS）、温度サイクル試験（TCT）、高温高湿バイアス（THB）、熱衝撃試験（TST）、アンバイアスHAST。

パッケージ・プロセス・データへのアクセス

アレニウス／FITレート計算ツール

アレニウス／FITレート計算ツールを使用して、温度およびその他のパラメータに基づく故障率（FIT）を計算します。

FITレート計算ツールへのアクセス

PPM計算ツール

PPM計算ツールに部品と故障の合計数を入力すると、サンプル・サイズに基づく100万個あたりの部品不良率（PPM）が計算されます。

PPM計算ツールへのアクセス

信頼性ハンドブック

ADIの信頼性ハンドブックは、お客様の要件を満たす信頼性の高い高品質の製品を製造するためにADIが使用する活動と基準に焦点を当てています。このハンドブックは、当社の従業員と製造工程のあらゆるステップに組み込まれている、品質と信頼性の理念を伝えています。

信頼性ハンドブックへのアクセス

製品ライフサイクルを通した信頼性の重視

開発の初期段階から
組み込まれる信頼性

  • 信頼性の構築

    信頼性のグループは、信頼性作り込み（BIR：Building In Reliability）を促進する新技術を開発する際、プロセス開発および製造エンジニアと連携して作業を行います。

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  • 信頼性のための設計

    信頼性の専門家は、設計者や製造者と継続的に協力し、すべての新製品に信頼性を組み込むように努めています。

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  • 故障メカニズムの評価

    信頼性エンジニアは、設計エンジニアや製造エンジニアと密接に連携し、製品設計、製造プロセス、ICパッケージ間の潜在的な意図しない相互作用を特定、排除することで、全体的な信頼性を最大化します。

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  • 適格性評価プランニング

    適格性評価計画の方法論は、その関与の性質上、これらの問題に関して特別な知識を持つプロジェクト・エンジニアのチームによって、適格性評価プロセスと信頼性基準に関する高品質の信頼性決定を行うことを可能にします。

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製品リリース前に
信頼性を検証

  • 適格性評価試験

    ADIは、お客様と協力し、製品が使用されるアプリケーションと環境を調査して理解し、適切な品質と信頼性のレベルを確立します。これらは、製品設計と製造フローに組み込まれ、新製品サイクルの認定段階で検証されます。

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  • EOS/ESD耐性

    CDMとHBMに対する堅牢性を達成するためのADIの設計ルールと独自の設計技術は、MMでの耐ESD性も保証します。

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  • プロセスとパッケージの堅牢性

    加速信頼性ストレス試験は、製品の堅牢性を検証するために実施されます。

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製品ライフサイクルを通じて
検証された信頼性

  • 信頼性モニタリング

    製品の信頼性を継続的に実証するため、生産ユニットは無作為に引き抜かれ、厳格なストレス試験にかけられます。

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  • 製品分析

    アナログ・デバイセズの製品分析グループは、どのような問題にも妥協のないサポートをお客様に提供することに専念しています。ADIは、製品分析技術が完璧であること、分析チームが高度な訓練を受けた熟練した専門家で構成されるようにしています。

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  • ESD制御に関する専門知識

    アナログ・デバイセズは、お客様がボード・レベルおよびシステム・レベルのEOS/ESD保護について理解するお手伝いをします。

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技術品質文書

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品質関連資料

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A New ESD Model: The Charged Strip Model

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A Combined Socketed and Non-Socketed CDM Test Approach for Eliminating Real-World CDM Failures

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Eliminating the Top Causes of Customer-Attributable Integrated Circuit Failures

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Technical Articles

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