AD9515
新規設計に推奨1.6 GHZクロック分配IC、ドライバ、遅延調整、2出力
- 製品モデル
- 2
- 1Ku当たりの価格
- 最低価格:$6.09
製品の詳細
- 1.6 GHzの差動クロック入力
- プログラマブルな1~32分周器を2個内蔵
遅延粗調整用の位相選択 - 1.6 GHzのLVPECLクロック出力
LVPECLでの出力ジッタ増: 225 fs rms
- 800 MHz/250 MHzのLVDS/CMOSクロック出力
LVDS/CMOSでの出力ジッタ増: 300 fs rms/290 fs rms
遅延時間:最大10 ns - 4レベル・ロジックのピンでデバイスを設定
- 省スペースの32ピンLFCSPパッケージを採用
AD9515は、ジッタと位相ノイズを小さくしてデータ・コンバータの性能を向上させるデザイン内に2個の出力を持つクロック分配ICを内蔵しています。厳しい位相ノイズとジッタの条件を持つその他のアプリケーションでもこのデバイスを利用することができます。
独立なクロック出力が2個あります。1つの出力はLVPECLで、他の出力はLVDSレベルまたはCMOSレベルに設定することができます。LVPECL出力は、1.6 GHzまで動作することができます。他の出力は、LVDSモードでは800 MHzまで、CMOSモードでは250 MHzまで、それぞれ動作することができます。
各出力にはプログラマブル分周器があり、1~32の範囲から選択した整数で分周するよう設定できます。他のクロック出力に対する1つのクロック出力の位相は、タイミング粗調整として機能する分周器の位相選択機能を使って設定することができます。
LVDS/CMOS出力には遅延エレメントがあり、3種類のフルスケール遅延値(1.5 ns、5 ns、10 ns)を選択することができます。各々は16ステップで微調整することができます。
AD9515では、動作またはセットアップのために外付けコントローラは不要です。このデバイスは、4レベル・ロジックを使用する11本のピン(S0~S10)を使って設定します。設定ピンは⅓ VSに内部バイアスされています。VREFピンは⅔ VSレベルを、VS (3.3 V)とGND (0 V)はその他の2ロジック・レベルを、それぞれ提供します。
AD9515は、ピコ秒未満のジッタを持つエンコード信号によりコンバータの最大性能を実現するデータ・コンバータ・クロック駆動アプリケーションに最適です。
AD9515は32ピンLFCSPを採用し、3.3 V単電源で動作します。温度範囲は−40°C~+85°Cです。
アプリケーション
- 低ジッタ、低位相ノイズのクロック分配
- 高速ADC、DAC、DDS、DDC、DUC、MxFEのクロック駆動
- 高性能ワイヤレス・トランシーバ
- 高性能計装機器
- ブロードバンド・インフラストラクチャ
- ATE
ドキュメント
データシート 1
アプリケーション・ノート 11
技術記事 6
リファレンス設計 2
製品選択ガイド 1
製品モデル | ピン/パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
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AD9515BCPZ | 32-Lead LFCSP (5mm x 5mm w/ EP) | ||
AD9515BCPZ-REEL7 | 32-Lead LFCSP (5mm x 5mm w/ EP) |
製品モデル | 製品ライフサイクル | PCN |
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6 9, 2021 - 20_0126 Conversion of Select Sizes LFCSP Products from Punched to Sawn and Transfer of Assembly Site to ASE Korea |
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AD9515BCPZ | 製造中 | |
AD9515BCPZ-REEL7 | 製造中 | |
9 13, 2017 - 16_0077 CANCELLED: Conversion of Select 4x4, 5x5, 6x6 and 7x7mm LFCSP Package Outlines from Punch to Sawn and Transfer of Assembly Site to ASE Korea. |
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AD9515BCPZ | 製造中 | |
AD9515BCPZ-REEL7 | 製造中 |
これは最新改訂バージョンのデータシートです。
ツールおよびシミュレーション
ADIsimCLK 設計・評価 ソフトウェア
ADIsimCLKはアナログ・デバイセズの超低ジッタのクロック分配器とクロック生成用製品向けに開発された設計ツールです。ADIsimCLKを使用すれば、ワイヤレス・インフラストラクチャ、計測器、ネットワーキング、ブロードバンド、ATE(自動試験装置)あるいはクロック性能が予測可能であることが求められるあらゆる分野のアプリケーションで、設計を迅速に開発、評価、最適化できます。
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