MAX9972
量产四通道、超低功耗、300Mbps ATE驱动器/比较器
低成本、低功耗ATE引脚电子测量器件,用于存储器及内部结构自动测试设备
- 产品模型
- 2
产品详情
- 小尺寸:在0.3in²上集成了四个通道
- 低功耗:每通道325mW (典型值)
- 高速:3VP-P时,300Mbps
- -2.2V至+5.2V工作电压范围
- 有源端接(第3级驱动)
- 集成PMU开关
- 无源负载
- 低泄漏模式:20nA (最大值)
- 低增益误差、失调误差
MAX9972为四通道、超低功耗、引脚电子测量IC,每通道包括三电平引脚驱动器、窗口比较器、无源负载和加载-感应Kelvin切换参数测量单元(PMU)。驱动器具有-2.2V至+5.2V电压范围,包含高阻和有源端接(第3级驱动)工作模式,在低电压摆幅下仍可保持高线性。窗口比较器具有500MHz等效输入带宽和可编程的输出电压。无源负载为被测器件(DUT)提供上拉和下拉电压。
提供两种精度等级:A级和B级。A级器件为驱动器和比较器提供精确的增益和失调匹配,允许多通道共用基准电压。且具有严格的负载阻抗公差;B级器件适用于每通道具有独立基准电压的系统设计。
通过3线、低压、CMOS兼容串口编程设置器件的低泄漏、高阻抗和端接特性。高速PMU切换通过专用的数字控制输入实现。
该器件采用80引脚、12mm x 12mm大小、1.0mm引脚间距的TQFP封装,封装底部带有6mm x 6mm的裸焊盘可实现高校的散热。MAX9972工作在0°C至+70°C商业级温度范围,并且具有管芯温度监测输出。
应用
- 有源老化系统
- DRAM探测器
- 低成本混合信号/片上系统(SoC)测试器
- NAND闪存测试器
- 结构测试装置
参考资料
数据手册 2
可靠性数据 1
技术文章 1
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的质量和可靠性计划和认证以了解更多信息。
产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号,脚注和 3D模型 |
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MAX9972ACCS+D | 80-TQFP_EP-12X12X1.0 | ||
MAX9972ACCS+TD | 80-TQFP_EP-12X12X1.0 |
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