ADATE324

ADATE324は、ドライバ、コンパレータ、アクティブ負荷（DCL）のピン・エレクトロニクス（PE）機能を実行する、フル機能のシングルチップ、クワッドチャンネル自動試験装置（ATE）ソリューションです。また、このデバイスでは、フラッシュ・メモリ・テスト・アプリケーションをサポートするために、チップごとに高電圧（VHH）ドライブ機能が備わっています。オンチップ・キャリブレーション・レジスタを備えた専用16ビットD/Aコンバータ（DAC）が、デバイスの動作に必要なすべてのDCレベルを供給します。

電圧ドライバには、3つのアクティブ状態（ハイ、ロー、および終端）に加え、高インピーダンス・インヒビット状態があります。インヒビット状態では、ドライバが能動的にラインを終端していない場合、内蔵のダイナミック・クランプと連動して、伝送ラインの反射の大幅な減衰を容易に実現できます。オープン・サーキット駆動能力は、−1.5V～+4.5Vであり、標準的なATEおよび計測器アプリケーションに対応できます。

ADATE324は、クワッドのシングルエンド・ピン・エレクトロニクス・チャンネル、またはデュアルの差動チャンネルとして使用できます。チャンネルごとの高速ウィンドウ・コンパレータに加え、差動ATEアプリケーション向けの2つのプログラマブルな閾値差動コンパレータ機能も備えています。

DCL機能のすべてのDCレベルは、専用のオンチップ16ビットDACで生成されます。正確なプログラミング・レベルを実現するために、ADATE324には、各機能ブロックのゲイン誤差およびオフセット誤差を修正するキャリブレーション機能が内蔵されています。補正係数はオンチップで保存でき、DACに書き込まれるすべての値は、適切な補正係数を使用して自動的に調整されます。

ADATE324では、シリアル・プログラマブル・インターフェース（SPI）バスを使用して、すべての機能ブロック、DAC、およびオンチップ・キャリブレーション定数をプログラムします。このデバイスには、デバイスの温度と、動作中に発生する可能性がある出力ピン電圧故障を監視および報告するオンチップ温度センサーと過電圧／低電圧フォルト・クランプがあります。

ADATE324の詳細については、ADATE324@analog.comにお問い合わせください。

アプリケーション

• ATE
• 半導体およびボード・テスト・システム
• 計測器／特性評価機器