ADATE318

ADATE318は全機能内蔵のシングルチップのATEソリューションで、ドライバ、コンパレータ、アクティブ・ロード（DCL）、4象限、パーピン・パラメトリック・メジャー・ユニット（PMU）などピン・エレクトロニクス機能を提供します。この製品は、フラッシュ・メモリ・テスト・アプリケーションをサポートするためのチップあたりのVHHドライブ能力を備えており、製品の動作に関して必要な全てのDCレベルを提供するためのキャリブレーション・エンジンを内蔵した16ビットのDACを集積しています。

ドライバは3つのアクティブ・ステートを特長としています：この3つはデータ・ハイ、データ・ローおよびターミネート・モードで、高インピーダンスのインヒビット・ステートもあります。インヒビット・ステートは、内蔵のダイナミック・クランプ機能とともに、高速アクティブ・ターミネーションの導入を容易にします。出力電圧能力は-1.5V～+6.5Vで、ATEおよび計測器アプリケーションでの広い範囲に対応します。

ADATE318は、デュアルとしてシングルエンド・ドライブ・チャンネル/シングルエンド・レシーブ・チャンネル、または、シングルとして差動ドライブ・チャンネル/差動レシーブ・チャンネルとして使うことができます。ADATE318の各チャンネルは、高速のウインドウ・コンパレータの機能があり、差動ATEアプリケーションでのプログラマブルなスレショールド差動コンパレータ機能も備えています。また4象限のPPMUもチャンネルごとに用意されています。

DCLおよびPPMU機能のための全てのDCレベルは、24個の内蔵16ビットDAコンバータによって生成されます。高精度なレベルをプログタミングするために、ADATE318は各機能ブロックごとにゲインとオフセット誤差を補正するためのキャリブレーション機能を内蔵しています。補正係数はチップ上に保存することができ、DACに書き込まれたいかなる値も、適切な補正ファクタを用いて、自動的に調整されます。

ADATE318は、全ての機能ブロック、DAC、オンチップ調整用常数をプログラムするために、シリアル・プログママブル・インターフェース（SPI）を使います。また、デバイスの温度や各出力ピンあるいは動作中に起こる可能性のあるPPMUの電圧障害をモニタリングおよびレポーティングするための、オンチップ温度センサ、オーバ/アンダ電圧障害クランプ機能も備えています。

アプリケーション

• 自動テスト装置（ATE）
• 半導体テスト・システム
• ボード・テスト・システム
• 計測機器および特性評価用装置