AD667S
製造中12 ビット D/A コンバータ、航空宇宙、マイクロプロセッサ互換
- 製品モデル
- 6
- 1Ku当たりの価格
- 価格は未定
製品の詳細
- 全機能内蔵型 12 ビット D/A コンバータ機能、ダブル・バッファ付きラッチ、出力アンプ内蔵、高安定性埋め込みツェナー・リファレンス
- シングル・チップ構造
- 全温度範囲で単調増加性を確保
- 全温度範囲で直線性を確保: 1/2 LSB(最大値)
- ±12 V または ±15 V 電源での動作を確保
- 低消費電力
- TTL/5 V CMOS 互換ロジック入力
- 低ロジック入力電流
AD667S は全機能内蔵型、電圧出力の 12 ビット D/A コンバータで、シングル・チップに安定性の高い埋め込みツェナー電圧リファレンスとダブル・バッファ付き入力ラッチを搭載しています。このコンバータは 12 個の高精度、高速のバイポーラ電流ステアリング・スイッチ、およびレーザ・トリミングした薄膜抵抗ネットワークを採用しており、短いセトリング時間と高精度を実現します。
ダブル・バッファ付きラッチを内蔵しているため、マイクロプロセッサと互換性があります。入力にラッチを搭載した設計により、4 ビット、8 ビット、12 ビット、または 16 ビット・バスに直接インターフェース可能です。12 ビットのデータが 1 列目のラッチから 2 列目のラッチに転送されるので、アナログ出力値にスプリアスは生じません。このラッチは 100 ns の狭いストローブ・パルスにも応答するので、最高速の市販マイクロプロセッサとともに使用可能です。
AD667S の機能的完全性と高い性能は、高度なスイッチ設計技術、高速バイポーラ製造プロセス、および実証済みのレーザ・ウェーハ・トリミング(LWT)技術を組み合わせることによって実現しています。AD667S はウェーハ・レベルでトリミングされ、最大直線性誤差が全動作温度範囲にわたり ±1/2 LSB に規定されています。
チップ表面下の(埋め込み)ツェナー・ダイオードは、最高性能のディスクリート・リファレンス・ダイオードに匹敵する長期安定性と温度ドリフト特性を持つ低ノイズ電圧リファレンスになります。優れた直線性を実現するレーザ・トリミング・プロセスの採用により、温度係数だけでなく、リファレンスの絶対値もトリミングすることができます。したがって、AD667S は全温度範囲にわたり最大直線性誤差が ±1/2 LSB で、単調増加性を確保しているため、広い温度範囲で最適な性能を発揮します。
ドキュメント
データシート 1
高レベル放射線レポート 1
製品モデル | ピン/パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
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AD667-000C | 28 ld CerDIP | ||
AD6670703D | 28-Lead CerDIP (Side Brazed) | ||
AD6670703F | 28-Lead CerDIP | ||
AD6670713F | 28-Lead CerDIP | ||
AD667D-EMX | 28-Lead CerDIP (Side Brazed) | ||
AD667F-EMX | CER. FLATPACK WITH LEADS |
製品モデル | 製品ライフサイクル | PCN |
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7 30, 2018 - 16_0026 Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices |
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AD667-000C | ||
AD6670703D | ||
AD6670703F | ||
AD6670713F | ||
11 18, 2015 - 15_0219 Laser Marking Standardization for Aerospace Packages |
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AD667-000C | ||
AD6670703D | ||
AD6670703F | ||
AD6670713F | ||
10 2, 2013 - 13_0163 Qualify TSSI Cavite, Phils for Burn-in and Life Test of MIL-PRF-38535 QMLV Aerospace Devices |
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AD6670703D | ||
AD6670703F | ||
AD6670713F | ||
11 9, 2011 - 11_0050 Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines |
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AD6670703D | ||
AD6670703F | ||
AD6670713F | ||
11 9, 2011 - 11_0182 Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines |
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AD6670703D | ||
AD6670703F | ||
AD6670713F |
これは最新改訂バージョンのデータシートです。