ADATE302-02
ADATE302-02
製造中DCL、500MHz、デュアル、差動ドライブ/受信チャンネル、レベル設定DAC、パーピンPMUを集積
- 製品モデル
- 2
- 1Ku当たりの価格
- 最低価格:$45.22
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製品の詳細
- ハイ・インピーダンス・モードと内蔵クランプを備える3レベル・ドライバ
- 高精度にトリミングされた出力抵抗
- 低リーク電流モード(10nA未満、typ)
- 電圧範囲:-2.0~+6.0V
- 1.0ns(min)のパルス幅、1V終端
- ウィンド・コンパレータおよび差動コンパレータ
- 1GHzを越える入力等価帯域幅
- ±12mA(max)の電流出力能力
ADATE302-02は、ATEアプリケーション向けとしてドライバ、コンパレータ、アクティブ・ロード(DCL)、パーピンPMU、DCレベルのピン・エレクトロニクス機能を実行する全機能内蔵型のシングルチップ・ソリューションです。最大13.5Vの電圧を生成する能力を備えたHVOUTドライバとVHHバッファも内蔵しています。
ドライバは、データ・ハイ・モード、データ・ロー・モード、終端モードの3つのアクティブ状態と1つの禁止状態を特長としています。禁止状態と内蔵されたダイナミック・クランプを組み合わせることにより、高速のアクティブ終端が容易に実行されます。幅広い各種のテスト・デバイスに対処するために、出力電圧は-2.0~+6.0Vの範囲となっています。
ADATE302-02は、デュアルのシングルエンド・ドライブ/受信チャンネルまたはシングルの差動ドライブ/受信チャンネルとして使用できます。各チャンネルは、機能試験用の個別ピン対応の高速ウィンド・コンパレータ、並びにFVまたはFIおよびMVまたはMI機能を備えるパーピンPMUを特長としています。DCL機能に必要なすべてのDCレベルは、オンチップの14ビットDACによって生成されます。パーピンPMUは、高い精度を維持するためのオンチップ16ビットDACを特長とし、外付け部品数を最小限に抑えるために各種の抵抗を内蔵しています。
ADATE302-02はシリアル・バスを使用してすべての機能ブロックを設定し、デバイス温度をモニタするための温度センサを内蔵しています。
アプリケーション
- 自動試験装置(ATE)
- 半導体試験システム
- ボード試験システム
- 計測器および特性評価装置
ドキュメント
製品モデル | ピン/パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
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ADATE302-02BBCZ | 84-Ball CSPBGA (6mm x 6mm x 1.26mm) | ||
ADATE302-02BSVZ | 100-Lead TQFP (14mm x 14mm w/ EP) |
製品モデル | 製品ライフサイクル | PCN |
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3 9, 2015 - 14_0249 Assembly Transfer of Select CSP_BGA Products to STATS ChipPAC Korea Plant 3 |
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ADATE302-02BBCZ | 製造中 | |
8 27, 2013 - 13_0148 Flip Chip BGA 9x9 Shipping Tray Change |
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ADATE302-02BBCZ | 製造中 | |
10 28, 2010 - 10_0150 Wafer Bumping Changes at STATSChipPAC Singapore for AD53559 and ADATE30X |
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ADATE302-02BBCZ | 製造中 | |
3 15, 2016 - 14_0258 Assembly Transfer of Selected 14x14 LQFP, 14x14 LQFP_EP and 7x7,10x10,12x12,14x14 TQFP_EP Products to Amkor Philippines |
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ADATE302-02BSVZ | 製造中 | |
6 16, 2009 - 09_0027 Conversion to Laser Mark for the LQFP Packages (Single Grades) |
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ADATE302-02BSVZ | 製造中 |
これは最新改訂バージョンのデータシートです。
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