ADuM4177

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具有摆率控制和BIST功能的40 A拉电流和30 A灌电流SiC隔离式栅极驱动器

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产品详情

  • 40 A拉电流、30 A灌电流峰值短路（典型）驱动输出
  • 典型应用中的20 A峰值驱动电流（典型值）
  • 输出功率器件电阻：每通道0.38 Ω（典型值）
  • 1500 V峰值和直流工作电压(DIN EN IEC 60747-17)
  • 通过SPI接口实施摆率控制
  • 低传输延迟：108 ns（典型值）
  • 脉冲宽度：60 ns（最小值）
  • 双极和单极次级侧供电功能
    • VDD1：4.4 V至7 V
    • VDD2至VSS2：15 V至23 V
    • VDD2至GND2：12 V至23 V
    • VSS2至GND2：−5 V至−3.25 V（双极供电模式）
    • VSS2至GND2：0V（单极供电模式）
  • 保护特性：
  • DESAT–SiC漏极检测，7 V（典型值）阈值
    • 可编程内部DESAT消隐时间
  • ASC引脚，次级侧驱动器开启控制
  • 外部米勒箝位
  • 软关断，1 μs，可通过外部电阻调节
  • VDD2至VSS2 OVP和可编程VDD2至VSS2 UVP
  • VSS2至GND2 OVP和UVP
  • 通过故障报告引脚判断隔离故障
  • SiC开关隔离式温度检测
    • 1 kHz PWM和SPI寄存器读取
    • 温度检测二极管堆栈
    • 与使用外部电阻网络的NTC兼容
  • 内置自测(BIST)
  • SPI
  • 非易失性EEPROM寄存器，用于实现可配置性
  • 故障报告信息
  • 工作结温范围：−40℃至+150℃
  • 采用28引脚SOIC_W_FP封装
  • 通过AEC-Q100汽车应用认证
ADuM4177
具有摆率控制和BIST功能的40 A拉电流和30 A灌电流SiC隔离式栅极驱动器
ADuM4177 Functional Block Diagram ADuM4177 Application Circuit ADuM4177 Pin Configuration ADuM4177 Chip
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工具及仿真模型

IBIS 模型 1

评估套件

eval board
schematic 1
schematic 2
schematic 3
EVAL-ADUM4177EBZ

Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests

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特性和优点

  • 40 A (source), 30 A (sink) peak drive output capability
  • Output power device resistance: 0.38 Ω per MOSFET
  • Test infrastructure for
    • SPI communication
    • Slew-rate control
    • Desaturation detection
    • Miller drive
    • Active short-circuit
    • Temperature sensing
    • Fault reporting
    • Multiple dummy loads

产品详情

The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board shows the advanced features of the ADuM4177 while maintaining flexibility in a testing environment. The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board layout delivers a circuit that is easy to control through jumper pins and with access to all of the pins through headers and input and output connectors. A more optimized layout is possible that increases the performance of the system.

The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board works with the USB-SDP-CABLEZ programming cable to access the secondary side electronically erasable programmable read-only memory (EEPROM) and includes the option to drive the serial-peripheral interface (SPI) bus with any other SPI compatible system. The USB-SDP-CABLEZ operates with a 3.3 V logic supply, while the ADuM4177 is typically powered with 5 V. Resistor dividers are added on the SPI channels to allow interfacing.

The user guide shows how to use the ADuM4177 evaluation board to perform basic evaluations such as propagation delay testing, active short-circuit (ASC) function, and desaturation (DESAT). The user guide also shows how to use the evaluation software to access the user configurable bits and explains how to simulate EEPROM settings and program bits into nonvolatile memory.

Full specifications on the ADuM4177 are available in the ADuM4177 data sheet available from Analog Devices, Inc., and must be consulted with the user guide when using the EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board.
EVAL-ADUM4177EBZ
Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests
EVAL-ADuM4177EBZ Evaluation Board EVAL-ADuM4177EBZ Evaluation Board - Top View EVAL-ADuM4177EBZ Evaluation Board - Bottom View

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