AD632
不推荐用于新设计内部调整的精密IC乘法器
- 产品模型
- 13
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产品详情
- 所有输入(X, Y and Z)均为差分、高阻抗输入,传递函数: [(X1 - X2) (Y1 - Y2)/10] + Z2
- 比例因子可调,提供最高10倍增益
- 四象限误差预调整至±0.5%(最大值)
- 低噪声设计:90 µV rms
(10 Hz-10 kHz) - 低成本单芯片结构
- 出色的长期稳定性
AD632是一款内部调整的单芯片四象限模拟乘法器/除法器。AD632B的最大乘法误差为±0.5%,无需外部调整。
出色的电源抑制、片内薄膜电阻和嵌入式齐纳基准电压源的低温度系数和长期稳定性,保证该器件即使在不利条件下也能达到额定精度。该器件使用简单且灵活,为实现复杂控制功能提供了一种有吸引力的替代解决方案。
AD632与业界标准器件AD532引脚兼容,提供改进的性能规格和全差分高阻抗Z输入。AD632能够提供最高10倍的增益,其许多应用无需独立的仪表放大器来预调理输入。AD632可以有效地用作具有高共模抑制性能的可变增益差分输入放大器,其固有的低噪声特性(90 µV rms)进一步增强了这种可变增益能力的效用。
参考资料
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的质量和可靠性计划和认证以了解更多信息。
产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号,脚注和 3D模型 |
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AD632AD | 14-Lead Side Brazed CerDIP | ||
AD632ADZ | 14-Lead Side Brazed CerDIP | ||
AD632AHZ | 10-Lead TO-100 | ||
AD632BD | 14-Lead Side Brazed CerDIP | ||
AD632BDZ | 14-Lead Side Brazed CerDIP | ||
AD632BHZ | 10-Lead TO-100 | ||
AD632SD | 14-Lead Side Brazed CerDIP | ||
AD632SH | 10-Lead TO-100 | ||
AD632SH/883B | 10-Lead TO-100 | ||
AD632TD | 14-Lead Side Brazed CerDIP | ||
AD632TD/883B | 14-Lead Side Brazed CerDIP | ||
AD632TH | 10-Lead TO-100 | ||
AD632TH/883B | 10-Lead TO-100 |
产品型号 | 产品生命周期 | PCN |
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6月 6, 2012 - 12_0066 Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite |
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AD632AD | ||
AD632BD | ||
AD632SH/883B | ||
AD632TD/883B | ||
AD632TH/883B | ||
11月 9, 2011 - 11_0050 Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines |
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AD632AD | ||
AD632ADZ | ||
AD632AHZ | ||
AD632BD | ||
AD632BDZ | ||
AD632BHZ | ||
AD632SD | ||
AD632SH | ||
AD632SH/883B | ||
AD632TD | ||
AD632TD/883B | ||
AD632TH | ||
AD632TH/883B | ||
11月 9, 2011 - 11_0182 Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines |
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AD632AD | ||
AD632ADZ | ||
AD632AHZ | ||
AD632BD | ||
AD632BDZ | ||
AD632BHZ | ||
AD632SD | ||
AD632SH | ||
AD632SH/883B | ||
AD632TD | ||
AD632TD/883B | ||
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4月 9, 2018 - 16_0026 Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices |
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AD632SH/883B | ||
AD632TD/883B | ||
AD632TH/883B |
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