自動試験装置
アナログ・デバイセズでは、高性能でコスト効率に優れたソリューションが要求される量産ICテスト・アプリケーション向けに、最先端の統合化ピン・エレクトロニクス（PE）、デバイス電源（DPS）、およびパラメトリック測定ユニット（PMU）を提供しています。これらのATEアプリケーション専用製品は、MEMSスイッチから高性能コンバータ、RFトランシーバーに至る幅広い標準製品ポートフォリオとともに、デジタルSoC試験、メモリおよびウエハ試験、RFおよびミリ波試験、高電圧デバイス試験、システム・レベル試験など、あらゆる半導体試験カテゴリに独自のソリューションを提供します。
DPS、PMU、ピン・ドライバに関するインタラクティブなパラメトリック検索テーブルを使用して、様々な製品を比較してください。
ATEリーダーシップ：トップクラスのRFとパワーの高精度技術
高速コンバータ、広いRFレンジ、Power by Linear™スイートを統合したプレシジョン・テクノロジ・ソリューションにより、設計を強化します。この総合的なアプローチにより、迅速なプロトタイピング、システム・レベルのイノベーション、比類のない製品性能を実現します。
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