HFAN-04.5.3:4Gbps 850nm FCレシーバをテストするためのストレス源

2005年01月04日
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要約

いずれの光ファイバ伝送リンクであってもエラーフリー動作を確保するためには、リンクの個々の部品が最重要な性能パラメータを満たすことが必要です。多くの異なるベンダがさまざまな部品をリンクに供給していることを想定すると、すべての部品が最悪ケースの条件下でも相互に運用できることが重要です。ファイバチャネル標準では、各種ベンダの部品が相互に運用できるよう、また最悪ケースの条件でリンクのマージンを設けることができるよう、仕様とテスト方法を定めています。リンク内の各部品(SERDES、トランスミッタ、ファイバ、レシーバ、PWBなど)についてジッタ仕様が割り当てられています。レシーバのテストにおいてよく見逃される重要なパラメータは、ストレスドレシーバの感度です。ストレステストを用いて、予測される最悪ケースのアイクロージャ条件下(符号間干渉またはISIとも呼ばれる)でのレシーバ性能を評価します。このアプリケーションノートでは、マキシムのMAX3748評価ボード、バイアスT、Bessel Thompson (BT)フィルタ、および4Gbps 850nm VCSELを使用してストレステスト源を生成することに焦点を当てています。

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