Scan Design: スキャン設計
Scan Designとは
意味
スキャン設計：回路内部のレジスタまたはフリップフロップは繋げられるため、外部回路が容易にその内容を読み書き可能となる設計技術。内部メモリ素子が回路の外部端子から直接アクセスできない場合、状態が不明のためテストが困難である。スキャン設計では信号が素子を｢スキャンチェーン｣に再構成するため、その内容は読み込むことができ、希望すれば変更も可能。
同義語
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内部メモリ素子が回路の外部端子から直接アクセスできない場合、状態が不明のためテストが困難である。スキャン設計では信号が素子を｢スキャンチェーン｣に再構成するため、その内容は読み込むことができ、希望すれば変更も可能。