数据手册的奥妙—绝对最大额定值和热阻
内容提要
本文旨在回答有关绝对最大额定值和热阻的常见问题。
如果运算放大器工作不正常,对用户来说,这是 一件非常令人沮丧的事。构建成功电路的方法 有许多,但毁掉电路的方法甚至更多。不幸的 是,用户面临的问题/故障有90%都与阅读数据手册时的粗 心或误读有关。以下是有关绝对最大额定值和热阻的一些 常见问题,虽然这些问题的答案看似很明显,但经常被普 通读者误解。
放大器的工作参数可以略微高于绝对最大额定值吗?
绝对不可以。必须遵循数据手册中规定的绝对最大额定 值,以防对器件造成永久性的损坏。绝对最大额定值表示 器件可以承受的限值,而不是器件可以正常工作的限值。 例如,当输入电压大于绝对最大额定值时,结果会导致运 算放大器的输入差分对击穿,从而造成过大的故障电流。 这不但会导致参数性能变化,还会造成金属迁移,随着时 间的流逝,结果会对器件造成永久性损坏。简言之,务必 与最大额定值保持距离,否则,器件很可能遭到破坏!
请更详细地说明绝对最大额定值。
绝对最大额定值表列出了电压、温度和允许电流的最大 限值.
参数 | 额定值 |
---|---|
电源电压 | 6V |
输入电压 | ±VSY ±0.3V |
输入电流 | ±10 mA |
差分输入电压 | ±VSY |
对地输出短路持续时间 | 未定 |
存储温度范围 | −65°C至+150°C 工 |
工作温度范围 | −40°C至+125°C |
结温范围 | −65°C至+150°C |
引脚温度(焊接,60秒) | 300°C |
图1. 绝对最大额定值示例表
可以对运算放大器施加的最大电源电压取决于制造工艺。 这里指的是瞬时值,而非均值或最终值。ADI公司的低电 压CMOS运算放大器一般限为6 V,高电压双极性器件则限 为36 V。
最大输入电压取决于运算放大器的输入级架构和电源电 压。几乎所有运算放大器均由ESD二极管提供保护。输入 ESD二极管决定着输入电压可以超过电源电压的程度。一 般地,输入电压不得超过供电轨的一个二极管压降(约为 300 mV至700 mV,视温度而定)。当运算放大器的工作电压 超过输入电压范围但处于绝对最大值以内时,其参数性能 会发生变化。运算放大器不会受损,但可能无法正常工 作,例如,它可能反相,输入偏置电流或输入失调电压可 能大幅增加。一旦输入电压超过绝对最大值,运算放大器 就可能遭受永久性损坏。用户经常会面临以下问题,未供电运算放大器输入端存在电压(电源时序所致)。这会违反 绝对最大额定值限制,导致输入过压,并且可能损毁器 件。解决此问题的一个简便办法是使用集成输入过压保护 的放大器。供应商集成了片内输入过压保护电路,以此作 为分立式模拟解决方案的便捷替代方案。一个例子是ADI 公司的过压保护(OVP)精密放大器ADA4091-2. 该放大器 允许输入电压最多比电源电压高或低25 V,而不会对器件 造成损坏。
最大差分输入电压指可以在输入端之间施加但不会诱发过 大电流的最大差分电压。有些运算放大器(见图2)利用内置 背靠背二极管来保护输入级,防止基极-发射极击穿。通过 输入端之间的箝位二极管数量,可以大致推知最大输入差 分电压。

图2. 输入差分电压保护
绝对最大额定值表还包括输入端允许的最大输入电流。如 果数据手册中未提供关于最大输入电流的信息,一条不错 的经验法则是,始终把输入电流限制在5 mA以下。如果预 计输入电流大于绝对最大值,则在输入端插入串联电阻(见 图2),对流入器件的电流进行限制。但这样做会带来噪声 并增加输入端折合失调电压。
当我超过绝对最大额定值时,器件会立即发生故 障吗?
当超过绝对最大额定值时,有几种故障模式。
首先,当超过最大额定值时,器件会立即发生故障。当对 放大器施加超大电压时,比如,对6 V CMOS放大器施加30 V电源电压,内置晶体管或结点几乎会立即发生故障。 然后,器件会遭到永久性损坏。
其次,如果超过绝对最大额定值持续一段时间,结果可能 导致器件故障。有时候,在承受过大电压或电流时,器件 不会立即发生故障,但长期如此则会最终遭受损坏。例 如,在短时间内,对6 V放大器施加7 V的电压可能是可以接 受的。然而,当器件持续遭受过压时,结点会变弱。最 后,器件会发生故障。这种情况下,器件的长期可靠性会 遭到极大破坏。
第三,超过绝对最大额定值会导致性能下降和结点过热, 最终会导致器件故障。过大的输入电流可能导致参数性能 变化和金属迁移。随着热量越聚越多,结点热限值也可能 被超过。即使不超过结点热限值,较高的结点工作温度也 可能导致器件寿命大幅缩短。
因此,为了避免对放大器造成任何损坏,有必要防止超过 绝对最大额定值。另外,为了延长器件寿命,也有必要在 绝对最大额定值的基础上拥有充足的安全裕量。
存储、工作、结点和引脚焊接温度范围之间有何 区别?
存储温度指器件在无电状态下的安全存放温度。这表示器 件可以保存在仓库中,温度范围为−65°C至+150°C(见图 1),并且用在电路中时仍然可以发挥应有的功能。
工作温度指器件在加电状态下周围环境或系统的温度。放 大器通常会进行测试,并规定能在电气规格表指定的工作 温度范围内正常工作。部分标准工作温度范围为:
商用范围:0°C至70°C
工业范围:−40°C至+85°C
扩展工业范围:−40°C至+125°C
军用范围:−55°C至+125°C
结点温度指在器件加电条件下,封装中硅片的温度。用户 往往会监控工作温度,确保其不超过最大额定值,却忽略 了会随功耗增加的内部结点温度。本文后面部分将讨论结 点温度的计算方法。了会随功耗增加的内部结点温度。本文后面部分将讨论结 点温度的计算方法。
引脚焊接温度指封装引脚在手工焊接过程中可以承受的温 度。在图1中,在器件可能受到损坏之前,绝对最大引脚 焊接温度为300°C,持续时间为60秒。但请注意,因可靠 性问题,我们不建议采用手工焊接方法。
ADI公司采用两种封装引脚,含铅的锡铅引脚和无铅引脚 (目前ADI正在转型,以逐步达到RoHS的要求,发布的所 有新器件只包含无铅材料)。两种封装引脚在回流过程中的 峰值焊接温度都不相同,含铅锡铅引脚为220°C,无铅引 脚为260°C。更多信息详见IPC/JEDEC标准IPC/JEDEC J-STD-020。
再次强调,务必始终使器件保持在其正常工作和最大设计 温度限值以内。
热阻是什么?
热阻指在热流从一个结构(如:IC结点)转移到另一个结构 (如:周围空气)时遇到的阻力。热阻表示为每个单位热流 的温差(单位:°C/W)。一般用符号来表示热阻。数据手 册中的热阻额定值充当对不同封装器件进行热性能比较的 一项指标。在ADI公司,热阻额定值均以JEDEC工业测试 标准为依据,测试条件见数据手册。(JEDEC标准可以从 JEDEC网站免费下载)。对于一个运算放大器,如果结点到 空气的热阻为120°C/W,则在功耗为1 W时,IC结点与周围 空气之间的测得温差为120°C。
我为什么要重视θJA 和θJC?
图3所示为热阻表中的一个例子,其中列出了有关θJA和θJC 的信息。
热阻
封装类型 | θJA | θ JC | 单位 |
---|---|---|---|
8引脚 SOIC_N (R-8) | 120 | 45 | °C/W |
8引脚 MSOP (RM-8) | 142 | 45 | °C/W |
14引脚 TSSOP (RU-14) | 112 | 35 | °C/W |
16引脚 LFCSP (CP-16-17) | 55 | 14 | °C/W |
图3. 热阻表示例
θJC, (结点到外壳热阻)表示在热流从硅片结点转移到外壳(封 装顶部或底部)时遇到的阻力。θJC 取决于芯片厚度、表面 积和热流路径中器件材料的热导率。在JEDEC测试标准 中,根据θJC 定义,假定所有热量均流过封装顶部,流到散 热器。依据该定义,无热量会流过封装侧面或底部。因 此,θJC 仅在封装直接装在散热器上时有用。θJC 越低,热量 越容易注入散热器。

其中:
TJ = 结温。
TC =外壳(封装表面)温度。
PD =封装功耗。
θJA,(结点到空气热阻)表示在热流从硅片转移到周围(静止) 空气时遇到的阻力。它也反映了热量通过各种路径在结点 至周围空气之间流动的效率。在多数情况下,主要热流路 径为从引脚到电路板。 θJA 因而可用于无外部散热器的封 装。实践中, θJA 会受到周围环境和安装技术的影响。通风 不良和插槽的使用可能显著增加热阻。用风扇形成气流, 以较宽的走线把器件焊接到电路板上,可以增进散热效 果。这种方法有助于降低结点到周围空气的热阻,因而可 以降低结点温度。

其中 TA = 环境温度。
注意,θJA多用于确定封装的额定值,不得用于预测系统的 热性能。此项指标于比较在相同环境中测试的不同封装的 热性能。较低的θJA 数值表示,器件拥有较好的热性能,过 热可能性较小。较大的封装(表面积较大)可以更加有效地 散热,因此,其热阻通常较低。
已知环境温度和功耗时, θJA也经常用来计算芯片结点温 度。但请注意θJA 只有在系统环境与JEDEC定义的测试环 境几乎相同时才有用。 θJA 在很大程度上取决于电路板设计 (比如,埋入层的数量、其他现有发热元件、铜直线量)和 测试环境条件。
提醒一句:θJA在计算温度时应慎重使用JA。受实际环境和测试 环境差异的影响,该指标通常会给出不准确的热计算结果。
如何计算结点温度的近似值,确保不超过绝对最 大值?
假设测试条件与热测试标准的规定相同,芯片结点温度可 通过下式计算得到:

TA 为已知值,θJA 为给定值。封装的功耗可通过下式确定:

其中:
ISY × VSY 指静态功耗。
ILOAD × (VSY − VOUT)为输出级晶体管的功耗。
举例来说,图4中采用SOIC封装的双通道AD8622,其两个 通道的总功耗为66 mW。


图4. 单位增益电压跟随器
若环境温度为25°C, TJ 可通过下式计算。(热阻值参见图3。)

如果使用的是四通道AD8624(TSSOP),则功耗会增加一 倍,至132 mW,结点温度会增至39.78°C。

要提高设计的可靠性,可以开发拥有较大低热阻铜走线面 积的高热效电路板,并使用拥有多个开孔的多层PCB板, 以帮助排出封装中的热量。另外,可以选择低热阻封装, 或者以较轻的负载或较低的电源电压降低功耗。为了减少 PCB板上的局部功耗,单通道比双通道好,双通道比四通 道好。
最后,我的封装有一个裸露焊盘。我应该怎么办?
LFCSP封装(见图5)较小,通常有一个裸露焊盘(位于底部) 用于散热。裸露焊盘充当散热器,需要焊接至印刷电路板上的金属区域,以便把热量高效地传导至环境中。数据手 册会规定焊盘的焊接位置,要么焊接至地,要么焊接至负 或正电源引脚。在许多情况下,JA是在假定存在该连接的 条件下进行测试的,如果未连接,热阻会高于额定值。

图5. 带裸露焊盘的LFCSP封装
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{{modalTitle}}
{{modalDescription}}
{{dropdownTitle}}
- {{defaultSelectedText}} {{#each projectNames}}
- {{name}} {{/each}} {{#if newProjectText}}
-
{{newProjectText}}
{{/if}}
{{newProjectTitle}}
{{projectNameErrorText}}