问题:
我们多年来来一直使用ADI组件。我们利用更经济的设备和一整批系统来使用它们，但却发生故障。这是怎么回事？
答案:
您的系统运行依赖于我们产品的某些特性，这些特性未在数据手册中说明，而且与第二来源的产品不同。
这可能适用于任何器件，不光是IC或有源器件。考虑一个完全不同的场景：我在厨房里备有一瓶辣酱，用来调整咖喱和其他辣菜的辣度。最近，我买了一瓶新辣酱—常用品牌没货，所以我买了另一个史高维尔指标相同的牌子（也就是数据手册规格相同）。第二种辣酱很糟糕—辣度的确相同，但它让人感到辣的速度要慢得多；初尝很温和，但几秒钟后，舌头便火辣辣，这可能导致厨师因判断过快而添加太多辣酱。另外，我的常用辣酱只有辣味，而第二种辣酱除了辣以外，还有苦味，这会破坏精心烹制的菜肴味道。当然，电子器件的味道是不相干的，但其他未指明的参数可能很关健。
虽然我想告诉您，只要继续忠实地使用ADI器件—(这很可能是对的)—就会万事大吉，但必须注意，您得确保采购部门与系统设计人员之间有十分紧密的联络，当因为成本或其他原因而提出变更器件时，应对新器件进行评估，确认它真正兼容。除了纸上和/或仿真试验之外，这种评估还必须包括硬件测试，因为模型并不能模拟器件的所有特性；为了改善运行时性能，宏模型常常故意简化建模人员认为无关紧要的结构。在一本大部头著作中讨论所有可能的问题都是不现实的，何况一篇短文？但是，预测故障的原理是很简单的：问您自己什么样的非理想器件特性可能导致电路发生故障—然后仔细检查。
也许我应该列出多年来碰到的一些问题，但在这里，我想教给大家一种思维方式，而不是详尽地罗列潜在问题清单。
- 最近的一篇非常见问题解答1 谈到了未使用的器件引脚—我看到过这样的二手来源产品：原始产品中引脚未连接，但二手产品中却有内部连接。
- 某些运算放大器输入端为高阻抗，甚至有很大的差分电压，而另外一些运算放大器在配合负反馈使用时具有高阻抗（因而差分VIN很小），但当差分VIN > 600 mV时，其保护电路会大幅降低ZIN。
- 老电路的现代化（"改进"）的第二来源产品可能使用更快的IC工艺，具有意料之外的更宽带宽、潜在的不稳定性和宽带噪声。
- 或者，更快的逻辑工艺可能易受ns毛刺影响（其前身忽略了这种影响）。
- 一个10 nF 50 V陶瓷电容与一个容值相同但更便宜的箔电容相比，电感可能要低得多，因而高频阻抗也低得多。
- 同是标准(Cat-5)以太网电缆，但两家制造商的产品在损耗和串扰方面可能有很大的差别，导致某个特定系统只能使用其中一家的电缆。
研究、测试、再测试您的硬件，并且牢记墨菲定律2。
参考文献
1 James Bryant。"Unused Pins。" 非常见问题，第123期。
2 若有可能出错，则必定会出错。
