DS2174

增强型误码率测试器

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产品详情

  • 产生并检测数字模式,以便数字通信系统的分析和纠错
  • 可编程多项式长度和反馈抽头,以便产生多达232 - 1种任意伪随机模式,最多32个抽头可被用于反馈通道
  • 可编程的用户定义模式寄存器可产生长达512字节的长重复性模式
  • 大容量48位计数和误码数寄存器
  • 可软件编程的误码嵌入
  • 发送与接收通道完全独立
  • 8位并行控制端口
  • 可以在高达10-2的误码率下检测多项式测试模式
  • 可编程为串行、4位并行或8位并行数据接口
  • 串行模式时钟速率为155MHz;字节模式为80MHz,适合622Mbps的OC-3净流量
  • 采用44引脚PLCC封装
  • DS2174
    增强型误码率测试器
    DS2174:原理框图
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