ADG439F

量产

高性能4通道模拟多路复用器，具有故障保护功能

数据手册 (Rev. E) 产品选型表

产品模型: 3

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产品详情

电源关闭时所有开关断开
如果发生过压，接通通道的模拟输出将箝位在电源电压范围内
无闩锁设计
故障和过压保护：-40 V、+55 V

快速开关时间
接通时间：250 ns（最大值）
断开时间：150 ns（最大值）
先开后合式设计
TTL和CMOS兼容型输入
16引脚DIP/SOIC封装

参考资料

数据手册 1

ADG438F/ADG439F: High Performance, 4/8 Channel, Fault-Protected Analog Multiplexers Data Sheet (Rev.E) 11/03/2006

技术文章 3

Temperature monitor measures three thermal zones 01/07/2004

Data-acquisition system uses fault protection 05/04/2004

Enhanced Multiplexing for MEMS Optical Cross Connects 11/14/2003

ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的质量和可靠性计划和认证以了解更多信息。

产品型号	引脚/封装图-中文版	文档	CAD 符号，脚注和 3D模型
ADG439FBNZ	16-Lead PDIP	Material Declaration Reliablity Data	Ultra Librarian SamacSys
ADG439FBRWZ	16-Lead SOIC Wide	Material Declaration Reliablity Data	Ultra Librarian SamacSys
ADG439FBRZ	16-Lead SOIC	Material Declaration Reliablity Data	Ultra Librarian SamacSys

产品型号	产品生命周期	PCN

3月 29, 2021 - 21_0033 Assembly Site Transfer for 14/16L 300_MIL PDIP to Cirtek
		PCN21_0033_Form Material_Report Detailed Change Description Qualification Results Summary
ADG439FBNZ	量产
7月 12, 2011 - 11_0087 Re-design and Wafer Fabrication transfer of the ADG438F/ADG439F
		PCN11_0087_Form Material_Report Qualification Report Summary Datasheet Specification Comparison
ADG439FBNZ	量产
ADG439FBRWZ	量产
ADG439FBRZ	量产
8月 19, 2009 - 07_0024 Package Material Changes for SOT23, MiniSO, MQFP, PDIP, PLCC, SOIC (narrow and wide body), SSOP, TSSOP and TSSOP exposed pad
		Material_Report Material_Report Parts List PCN07_0024_Form Qual Data
ADG439FBNZ	量产
8月 4, 2010 - 10_0117 Halogen Free Material Change for SOIC_W Products at Carsem
		PCN10_0117_Form Material_Report Reliability Report
ADG439FBRWZ	量产	PCN10_0117_Form Material_Report Reliability Report
3月 25, 2021 - 21_0080 Amkor Philippines as an Alternate Site for SOICN
		PCN21_0080_Form Material_Report Qualification Results Summary Other
ADG439FBRZ	量产
2月 6, 2014 - 13_0234 Qualification of ASE Chungli, as an Alternate Assembly Site for Select 16L SOICN Packages
		PCN13_0234_Form Material_Report Detailed Change Description Qualification Report Summary
ADG439FBRZ	量产
10月 5, 2010 - 10_0146 Halogen Free Material Change for 14/16L SOIC_N Products
		PCN10_0146_Form Material_Report AEC-Q100 Reliability Report ADI0012 Reliability Report
ADG439FBRZ	量产
12月 20, 2011 - 10_0139 Obsolesence notice for some models of the ADG508F, ADG509F and ADG528F
		PDN10_0139_Form Material_Report
ADG439FBNZ	量产	PDN10_0139_Form Material_Report

这是最新版本的数据手册

硬件生态系统

部分模型	产品周期	描述
ADG5249F	推荐新设计使用	故障保护和检测、0.8 pC Q_INJ、双通道4:1多路复用器
ADG5209F	推荐新设计使用	故障保护，−0.4 pC Q_INJ，8:1/双4:1多路复用器

ADG439F

产品详情

参考资料

数据手册 1

技术文章 3

产品选型指南 1

模拟对话 2

硬件生态系统

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